High accuracy, high resolution 235U(n,f) cross section from n_TOF (CERN) from 18 meV to 10 keV

M. Mastromarco, S. Amaducci, N. Colonna, P. Finocchiaro, L. Cosentino, M. Barbagallo, O. Aberle, J. Andrzejewski, L. Audouin, M. Bacak, J. Balibrea, F. Bečvář, E. Berthoumieux, J. Billowes, D. Bosnar, A. Brown, M. Caamaño, F. Calviño, M. Calviani, D. Cano-OttR. Cardella, A. Casanovas, F. Cerutti, Y. H. Chen, E. Chiaveri, G. Cortés, M. A. Cortés-Giraldo, L. A. Damone, M. Diakaki, C. Domingo-Pardo, D. Diacono, R. Dressler, E. Dupont, I. Durán, B. Fernández-Domínguez, A. Ferrari, P. Ferreira, V. Furman, K. Göbel, A. R. García, A. Gawlik, S. Gilardoni, T. Glodariu, I. F. Gonçalves, E. González-Romero, E. Griesmayer, C. Guerrero, F. Gunsing, H. Harada, S. Heinitz, J. Heyse, D. G. Jenkins, E. Jericha, F. Käppeler, Y. Kadi, A. Kalamara, P. Kavrigin, A. Kimura, N. Kivel, I. Knapova, M. Kokkoris, M. Krtička, D. Kurtulgil, E. Leal-Cidoncha, C. Lederer, H. Leeb, J. Lerendegui-Marco, S. Lo Meo, S. J. Lonsdale, D. Macina, A. Manna, J. Marganiec, T. Martínez, A. Masi, C. Massimi, P. Mastinu, E. A. Maugeri, A. Mazzone, E. Mendoza, A. Mengoni, P. M. Milazzo, F. Mingrone, A. Musumarra, A. Negret, R. Nolte, A. Oprea, N. Patronis, A. Pavlik, J. Perkowski, I. Porras, J. Praena, J. M. Quesada, D. Radeck, T. Rauscher, R. Reifarth, C. Rubbia, J. A. Ryan, M. Sabaté-Gilarte, A. Saxena, P. Schillebeeckx, D. Schumann, PV Sedyshev, A. G. Smith, N. V. Sosnin, A. Stamatopoulos, G. Tagliente, J. L. Tain, A. Tarifeño-Saldivia, L. Tassan-Got, S. Valenta, G. Vannini, V. Variale, P. Vaz, A. Ventura, V. Vlachoudis, R. Vlastou, A. Wallner, S. Warren, C. Weiss, P. J. Woods, T. Wright, P. Žugec

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Fingerprint

Dive into the research topics of 'High accuracy, high resolution 235U(n,f) cross section from n_TOF (CERN) from 18 meV to 10 keV'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Engineering

Physics

Material Science

Chemistry